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microscopio

SU1510 SEM analítico de presión variable y tamaño reducido

0-30 Kv

SE 3 nm @ 30Kv / BSE  6 nm @ 30 Kv (6Pa)

Modos de trabajo de alto y bajo vacío hasta 270 Pa

X: 0-80 mm

Y: 0-40 mm

Z:  5-50 mm

Admite muestras de hasta 153 mm de diámetro y 60 mm de altura

SU3500

SU3500 SEM analítico de presión variable

0-30 Kv

Resolución en SE: 3 nm @ 30Kv / 7 nm @ 3 Kv

Resolución en BSE: 4 nm @ 30Kv / 10 nm @ 5 Kv

Modos de trabajo de alto y bajo vacío hasta 650 Pa

X: 0-100 mm

Y: 0-50 mm

Z:  5-65 mm

Admite muestras de hasta 200 mm de diámetro y 80 mm de altura

S3700N

S-3700N SEM analítico de presión variable con cámara grande

0-30 Kv

3 nm @ 30Kv / 10 nm @ 3 Kv

Modos de trabajo de alto y bajo vacío hasta 270 Pa

X: 0-150 mm

Y: 0-110 mm

Z:  5-65 mm

Admite muestras de hasta 300 mm de diámetro y 110 mm de altura

SU8200

Familia SU8200

 

Lo último en FE-SEM combinando una inigualable capacidad de imagen con analisis elemental y alta eficiencia.

 

 
Cámara
Recorrido del Stage (X,Y)

Control del

motor

SEC
Detectores
SU8220
6"
50mm x 50mm
5 ejes
6"
-Top (Hi-pass 
  filtro opcional)
-Upper (ExB)
-Lower
SU8230
8", puerto EBSD
110mm x 110mm
5 ejes
6" 
(8" opcional)
SU8240
8", puerto EBSD
110mm x 80mm

5 ejes con

REGULUS

 

SU9000

SU9000 FE-SEM de ultra alta resolución y alto contraste

0-30 Kv

0.34nm STEM

0.4 nm @ 30 Kv / 1.2 nm @ 1 Kv

Magnificación de hasta 3.000.000

Nuevo detector BF/DF Duo-STEM con imágenes BF y DF simultáneas

microscopio

SU-70 FE-SEM de alta resolución analítico. Filamento Schottky

0-30 Kv

1.0 nm @ 15 Kv / 1.6 nm @ 1 Kv

Corriente de haz hasta 200 nA

X: 0-110 mm

Y: 0-110 mm

Z: 4-40 mm

SU6600 FE-SEM de alta resolución analítico de presión variable. Filamento Schottky

0-30 Kv

1.2 nm @ 30 Kv / 3.0  nm @ 1 Kv

Modos de trabajo de alto y bajo vacío hasta 300 Pa

Corriente de haz superior a 200 nA

X: 0-110 mm

Y: 0-110 mm

Z: 4-40 mm

HT7700

HT-7700 TEM Bio-médico de 120 Kv

CCD de alta sensibilidad integrada

Con reducción de daño del haz debido a la baja dosis de electrones

Con tecnología de Doble Lente Gap de Hitachi

Amplio campo de visión a baja magnificación con la función panorama

Stage de alta precisión con ángulo de Tilt de +/-70°

H-9500 TEM de 300 Kv digital

Filamento LaB6

Goniómetro eucéntrico de 5 ejes

CCD integrada

0.1 nm (lattice) / 0.18 nm (point to point)

HF-3300 Holography FE-TEM de 300 Kv digital

Goniómetro eucéntrico de 5 ejes

CCD integrada

0.1 nm (lattice) / 0.19 nm (point to point)

HD-2700 STEM dedicado de 200 Kv  con corrector Cs

0.136 nm @ 200 Kv

Imagen SE y STEM

Observación simultanea de imagen STEM y patrón de difracción

Brazo de rotación para análisis 3D

Alta sensitividad para análisis EDX

FB2200

FB-2200 FIB

10 a 40 Kv

Corriente de haz hasta 60 nA a 40Kv

Daño de la muestra minimizado

Portamuestras compatible con TEM y SEM

Amplio rango de energías para el haz

NB5000 FIB-SEM

FIB

10 a 40 Kv

Corriente de haz hasta 80 nA

Observación simultanea de imagen durante el proceso de devastado

Brazo de rotación para análisis 3D

SEM

0-30 Kv

Filamento Schottky

Corriente de haz superior a 30 nA

Doble stage para SEM y STEM

TM3030 Tabletop SEM

5 y 15 Kv

Hasta 30.000 aumentos

Diseño aún más compacto y fácil utilización

Mejor rango de contraste

Observación de muestras no conductoras sin metalización.

Imagen 3D

SwiftED-TM EDX para TM3030

QUANTAX EDX para TM3030

X: -17,5 a +17,5 mm

Y: -17,5 a +17,5 mm

 

 

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Dirección: C/ Santa Leonor 63, 2º H C.P. 28037 Ciudad: Madrid (España) Telf. (+34) 91 326 74 97 Fax: (+34) 91 326 76 08 E-mail: mi2@monocomp-instrumentacion.com

optimizada para 1280x1024 ó 1920x1080 pixels

 

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